ONU-TFA3528L-20MP

· Alta iluminación relativa y alto contraste.

· Baja distorsión y excelente brillo en las esquinas

· Alta resolución

· Compatible con cámara de 20MP de 1'' y 1,1''

· Alta iluminación relativa y alto contraste.

· Baja distorsión y excelente brillo en las esquinas

· Alta resolución

· Compatible con cámara de 20MP de 1'' y 1,1''

· Alta iluminación relativa y alto contraste.

· Baja distorsión y excelente brillo en las esquinas

· Alta resolución

· Compatible con cámara de 20MP de 1'' y 1,1''

· Alta iluminación relativa y alto contraste.

· Baja distorsión y excelente brillo en las esquinas

· Alta resolución

· Compatible con cámara de 20MP de 1'' y 1,1''

Características del producto:

· Desarrollado para formato de imagen de 1/1,8"
· Baja distorsión
· Alta iluminación relativa

· Enfoque e iris fijados con tornillo

Información del producto: Diseños personalizados están disponibles a pedido.

For high-end PCB AOI inspection, Mini/Micro LED panel micro-defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow precision metal strip flaw detection, luxury printing anti-counterfeit texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic inspection and high-precision linear dimension measurement of tiny electronic components.

· Developed for 66mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

Características del producto:

· Desarrollado para sensor de marco grande de 32 mm